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及時(shí)為您提供新聞資訊本文透過電子元器件看?高低溫試驗(yàn)箱?的功能?;蛘哒f直接表述電子元器件所要求擁有的性能。
1.高溫貯存
電子元器件的失效大多數(shù)是由于體內(nèi)和表面的各種物理化學(xué)變化所引起,它們與溫度有密切的關(guān)系。溫度升高以后,化學(xué)反應(yīng)速度大大加快,失效過程也得到加速。使得有缺陷的元器件能及時(shí)暴露,予以剔除。功率老煉需要專門的試驗(yàn)設(shè)備,其費(fèi)用較高,故篩選時(shí)間不宜過長(zhǎng)。民用產(chǎn)品通常為幾個(gè)小時(shí),軍用高可靠產(chǎn)品可選擇100、168小時(shí),宇航級(jí)元器件可以選擇240小時(shí)甚至更長(zhǎng)的周期。
3.溫度循環(huán)
電子產(chǎn)品在使用過程中會(huì)遇到不同的環(huán)境溫度條件,在熱脹冷縮的應(yīng)力作用下,熱匹配性能差的元器件就容易失效。溫度循環(huán)篩選利用了極端高溫和極端低溫間的熱脹冷縮應(yīng)力,能有效的剔除有熱性能缺陷的產(chǎn)品。元器件常用的篩選條件是–55~+125℃,循環(huán)5~10次。
元器件篩選的必要性
電子元器件的固有可靠性取決于產(chǎn)品的可靠性設(shè)計(jì),在產(chǎn)品的制造過程中,由于人為因素或原材料、工藝條件、設(shè)備條件的波動(dòng),最終的成品不可能全部達(dá)到預(yù)期的固有可靠性。
在每一批成品中,總有一部分產(chǎn)品存在一些潛在的缺陷和弱點(diǎn),這些潛在的缺陷和弱點(diǎn),在一定的應(yīng)力條件下表現(xiàn)為早期失效。具有早期失效的元器件的平均壽命比正常產(chǎn)品要短得多。
電子設(shè)備能否可靠地工作的基礎(chǔ)是電子元器件能否可靠地工作。如果將早期失效的元器件裝上整機(jī)、設(shè)備,就會(huì)使得整機(jī)、設(shè)備的早期失效故障率大幅度增加,其可靠性不能滿足要求,而且還要付出極大的代價(jià)來維修。
因此,應(yīng)該在電子元器件裝上整機(jī)、設(shè)備之前,就要設(shè)法把具有早期失效的元器件盡可能地加以排除,為此就要對(duì)元器件進(jìn)行篩選。根據(jù)國(guó)內(nèi)外的篩選工作經(jīng)驗(yàn),通過有效的篩選可以使元器件的總使用失效率下降1-2個(gè)數(shù)量級(jí),因此不管是軍用產(chǎn)品還是民用產(chǎn)品,篩選都是保證可靠性的重要手段。
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